SEM 可以测成分吗
来源:学生作业帮助网 编辑:六六作业网 时间:2024/12/27 03:46:11
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这个是可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID.ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度.这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统.
扫描电镜只能观察分散情况或者微观结构等,不能测量成分的
不可以,只能看表面形貌和晶粒的大小
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表面成分太少,SEM的EDS测不出来,那还能用什么设备能测呢?
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SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别在研究纳米材料时,SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM分别可以观察纳米材料那些不同的特性?
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