X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求测试样品是否需要为单一相或均质什么的.假设我的样品里面有高分子部分和无机物部分相互交错规律排列,测试结果是否会有影响?若样品里面有晶体

来源：学生作业帮助网编辑：六六作业网时间：2025/01/24 11:30:54

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X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
测试样品是否需要为单一相或均质什么的.
假设我的样品里面有高分子部分和无机物部分相互交错规律排列,测试结果是否会有影响?
若样品里面有晶体成份,那测试结果是否也会被影响?

X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求测试样品是否需要为单一相或均质什么的.假设我的样品里面有高分子部分和无机物部分相互交错规律排列,测试结果是否会有影响?若样品里面有晶体
材质必须均匀.你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大.因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度.
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定（比如第一层高分子都是10微米厚）.这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有无限厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收）的问题.这样误差看你每层的厚度了,如果每层都很薄,比如几个微米那么影响会较小.如果每一层达到几十比如50微米以上,那么影响就会较大.
晶体成分没什么,只要是均匀分布就可以,因为即便有分光等现象,也是等概率的,因为是均匀分布.

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