椭圆偏正光法测薄膜厚度
来源：学生作业帮助网 编辑：六六作业网 时间：2025/02/02 12:44:30
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椭圆偏正光法测薄膜厚度
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椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率
椭偏法测量的基本思路是,起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为特殊的椭圆偏振光,把它投射到待测样品表面时,只要起偏器取适当的透光方向,被待测样品表面反射出来的将是线偏振光．根据偏振光在反射前后的偏振状态变化,包括振幅和相位的变化,便可以确定样品表面的许多光学特性．
根据仪器分析中的方程求解就可以的撒。
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