大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,一直si 3.24 sio2 1.5 入射光波长,观察到七条暗纹,求厚度e请问列暗纹公式的时候2k+1 为什么把k代成6?

来源:学生作业帮助网 编辑:六六作业网 时间:2024/12/23 00:03:17
大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,一直si3.24sio21.5入射光波长,观察到七条暗纹,求厚度e请问列暗纹公式的时候2k+1为什么把k代成6?大学物理薄膜

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一直si 3.24 sio2 1.5 入射光波长,观察到七条暗纹,求厚度e
请问列暗纹公式的时候2k+1 为什么把k代成6?

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我问你第一个暗条纹,k为0还是1,搞清楚这一点就可以了.
显然第一条暗纹的k取值为0,所以,第七条暗纹的k取值自然是6了.

大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,一直si 3.24 sio2 1.5 入射光波长,观察到七条暗纹,求厚度e请问列暗纹公式的时候2k+1 为什么把k代成6? 光的薄膜干涉中,如果薄膜厚度均匀,会产生干涉条纹吗 薄膜干涉 若减小薄膜的厚度 干涉图像会怎么样 间距会变宽还是窄 制造半导体元件时,常需要精确地测定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度,这时可以把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使它成为劈尖,利用等厚度干涉条文测处其厚度.如图,已知Si的折射率为3.42,SiO2的 薄膜干涉的应用 薄膜干涉的原理 薄膜干涉的应用 薄膜干涉的成因. 薄膜厚度测控技术中的干涉法的物理原理 为什么在薄膜干涉时,相同薄膜厚度的点一定在同一条纹上,同一干涉条纹上的点薄膜厚度相同? 薄膜干涉指的是什么? 精确测量硅片上的二氧化硅薄膜的厚度精确测量二氧化硅薄膜厚度时需要用化学方法把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使它成为劈尖状.请问:怎么把薄膜腐蚀成劈尖状? 大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成 薄膜干涉中等厚干涉的特点 为什么薄膜干涉中任意一条明条纹或暗条纹所在位置下的薄膜厚度会相等 大学物理薄膜干涉波长为500 nm的单色光从空气中垂直地入射到镀在玻璃(折射率为1.50 )上折射率为1.375 、厚度为1.0*10(-4) cm的薄膜上.入射光的一部分进入薄膜,并在下表面反射,则这条光线在 等厚干涉的薄膜厚度是指什么,怎么求 迈克尔孙思考题 如何调出同心干涉条纹薄膜厚度对条纹间距的影响?